透射电子显微镜(TEM)
发布时间: 2015-09-23 浏览次数: 254

仪器型号:JEM-2100

生产厂家:日本JEOL

主要配置:六硼化镧电子发射枪,CCD相机,单倾样品杆,双倾样品杆,多样品杆;冷冻超薄切片机

主要技术指标:加速电压: 80200 kV;放大倍数:501,500,000;点分辨率: 0.23nm;晶格分辨率: 0.14 nm

主要用途:分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构;分析高分子材料及其复合材料的形态结构;微粒形状观察及其尺寸分析;染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。

仪器责任教师:周剑锋B118室)