场发射透射电子显微镜(FE-TEM)
发布时间: 2015-09-23 浏览次数: 229


仪器型号:JEM-2100F

生产厂家:日本JEOL

主要配置:STEM探测器、HAADF探测器,IET 200型X射线能量色散谱仪(英国Oxford), 652型双倾加热样品台,613型单倾冷冻样品台,SA2000型原位纳米材料单体力学性能表征单倾样品台,ST1000型原位纳米材料单体电学性能表征单倾样品台。

主要技术指标:加速电压: 80200 kV;放大倍数:TEM 501,500,000STEMHAADF10050000,000TEM点分辨率: 0.19nmTEM晶格分辨率: 0.10 nmSTEMHAADF)分辨率: 0.20nm;元素检测范围:5B92U

主要用途:材料内部微观结构分析;样品微区的元素成分及其分布的分析;加热或冷冻情况下材料微观结构的分析;一维纳米材料的原位电学性能和力学性能测试。

仪器责任教师:阎捷(B111室)